应用场景:广泛用于平板显示等泛半导体产线中,用于检测物料在卡匣内的阵列分布情况
产品特点
– 完全自主开发,掌握多项核心技术
– 支持多套参数配置,同一套产品可适用不同尺寸的玻璃基板
– 可根据卡匣规格定制对应的产品,满足用户多样化需求
核心技术
– 红外图像采集技术
– 玻璃基板图像识别检测算法
– 通信总线接口技术