相机式基板阵列传感器

应用场景:广泛用于平板显示等泛半导体产线中,用于检测物料在卡匣内的阵列分布情况


产品特点



– 完全自主开发,掌握多项核心技术

– 支持多套参数配置,同一套产品可适用不同尺寸的玻璃基板

– 可根据卡匣规格定制对应的产品,满足用户多样化需求

核心技术



– 红外图像采集技术

– 玻璃基板图像识别检测算法

– 通信总线接口技术

规格参数



相机式基板阵列传感器

规格参数

 可检测玻璃厚度
 0.4mm~1.4mm
 允许安装误差
 ±13mm

 有效检测距离

 80±15mm

 目标检测物

 透明或不透明的玻璃基板

 响应时间

 ≤2s

 输出接口

 1.CC-Link或EtherCAT输出

 2.状态指示灯输出

 电源

 DC24V(±10%)

 额定功率

 ≤12w

 环境照度

 ≤5000Lx

 环境温度

 -25°C ~ 50°C

 环境湿度

 35 ~ 85%RH,无露



规格参数



相机式基板阵列传感器

规格参数

 可检测玻璃厚度
 0.4mm~1.4mm
 允许安装误差
 ±13mm

 有效检测距离

 80±15mm

 目标检测物

 透明或不透明的玻璃基板

 响应时间

 ≤2s

 输出接口

 1.CC-Link或EtherCAT输出

 2.状态指示灯输出

 电源

 DC24V(±10%)

 额定功率

 ≤12w

 环境照度

 ≤5000Lx

 环境温度

 -25°C ~ 50°C

 环境湿度

 35 ~ 85%RH,无露



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